公告摘要：
晶圓特性分析與測(cè)試系統(tǒng)廢標(biāo)公示（2025-YKZNKX-W3018）
我部對(duì)晶圓特性分析與測(cè)試系統(tǒng)采購(gòu)項(xiàng)目進(jìn)行了競(jìng)爭(zhēng)性談判采購(gòu)，現(xiàn)就供應(yīng)商評(píng)審結(jié)果公示如下： 一、項(xiàng)目名稱：晶圓特性分析與測(cè)試系統(tǒng) 二、項(xiàng)目編號(hào)：2025-YKZNKX-W3018 三、公示期限：2025年04月24日至2025年04......
