重慶芯聯(lián)微電子有限公司單點(diǎn)晶圓級可靠性測試系統(tǒng)重新招標(biāo)澄清或變更公告(1)

變更公告重慶市 2025-05-22

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公告摘要：

重慶芯聯(lián)微電子有限公司單點(diǎn)晶圓級可靠性測試系統(tǒng)重新招標(biāo)澄清或變更公告(1)
招標(biāo)項(xiàng)目編號：0613-254025122144 項(xiàng)目名稱：重慶芯聯(lián)微電子有限公司單點(diǎn)晶圓級可靠性測試系統(tǒng) 項(xiàng)目名稱(英文)：Xinlian Microelectronics Company Limited RE Lab - ......

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