公告摘要：
半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備（第二次）中標(biāo)結(jié)果公告(1)
項(xiàng)目名稱：半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備（第二次） 項(xiàng)目編號(hào)：0862-254HNZJC0005 招標(biāo)范圍：半導(dǎo)體缺陷檢測(cè)設(shè)備 招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中技建設(shè)咨詢有限公司 招標(biāo)人：湖南普照信息材料有限公司 開(kāi)標(biāo)時(shí)間：2025-04-02 14:30 公示時(shí)間：2025-04-0......
